上海欣茂大平片光譜測(cè)試儀手機(jī)屏薄膜反射儀

名   稱：大平片光譜測(cè)試儀

型   號(hào)：

品   牌：上海欣茂

上海欣茂大平片光譜測(cè)試儀手機(jī)屏薄膜反射儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

大平片光譜測(cè)試儀是專為手機(jī)屏IR 油墨小孔測(cè)量及液晶顯示屏、光學(xué)等制造行業(yè)的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)和質(zhì)量控制設(shè)計(jì)的專用測(cè)試儀器。

上海欣茂大平片光譜測(cè)試儀手機(jī)屏薄膜反射儀特點(diǎn)和功能

1、采用*的光、機(jī)、電、微計(jì)算機(jī)模快化設(shè)計(jì),具有超群的性能和性價(jià)比，使操作更為簡(jiǎn)便。

2、配置高性能“全息光柵"的低雜散光高分辨率的單色器,具有出眾的光學(xué)精度及測(cè)量準(zhǔn)確性。

3、儀器具有良好的穩(wěn)定性、重現(xiàn)性。

4、*的自動(dòng)調(diào)校0%T和100%T等控制功能。

5、具有定波長(zhǎng)測(cè)試、雙波長(zhǎng)測(cè)試（550nm、850nm）及多波長(zhǎng)測(cè)試和光譜掃描等功能。

6、儀器設(shè)計(jì)了可變狹縫及超小的測(cè)量孔徑，滿足客戶對(duì)各種樣品的需求。

7、可靠的斷電保護(hù)措施，可記憶測(cè)得數(shù)據(jù)、掃描圖譜、并實(shí)現(xiàn)了儀器快速初始化。

8、具有峰谷檢測(cè)以及平均值的求取等各種高級(jí)功能，可快速直接準(zhǔn)確的直讀數(shù)據(jù)。

9、儀器具有超大的樣品室，克服了傳統(tǒng)儀器無(wú)法測(cè)試尺寸較大樣品的缺陷，不需要將樣品裁剪成小的尺寸就可直接測(cè)試了。

10、LCD數(shù)字顯示器可顯示透射比等參數(shù)以及波長(zhǎng)讀數(shù)。

11、標(biāo)準(zhǔn)RS-232通訊接口(串口)，可通過(guò)XIN MAO用戶應(yīng)用軟件與電腦聯(lián)機(jī)，可實(shí)現(xiàn)光度測(cè)量、光譜掃描、定量測(cè)試、時(shí)間掃描及數(shù)據(jù)處理等功能，使分析工作更理想。

大平片光譜測(cè)試儀（手機(jī)屏IR 孔測(cè)量等）主要技術(shù)指標(biāo)：

波長(zhǎng)范圍： 325nm～1100nm

波長(zhǎng)精度： ±1nm

波長(zhǎng)重復(fù)性： ≤0.5nm

光譜帶寬： 1.6nm（最小測(cè)量直徑Φ0.5mm）

2.7nm（最小測(cè)量直徑Φ0.7mm）

5.0nm（最小測(cè)量直徑Φ1.1mm）

6.6nm（最小測(cè)量直徑Φ1.4mm）

測(cè)量范圍 0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C

透射比準(zhǔn)確度： ±0.5%（τ）

透射比重復(fù)性： ≤0.2%（τ）

基線直線性： ±0.004A

雜散光： ≤0.3%T(340、420nm)

最 大 可 測(cè) 片： 300mm x 400mm

工作電壓： AC 100V~240V 50Hz/60Hz